文献类型：专利

中文题名：一种基于缺口短裂纹效应的结构超高周疲劳寿命预测方法

作者：朱明亮[1];陈蓉[1];尧全恒[1];刘雨欣[1];李小龙[1];轩福贞[1];

机构：[1]华东理工大学;

专利类型：发明公开

申请号：CN202511891743.7

申请日：20251216

申请人地址：200237 上海市徐汇区梅陇路130号

公开日：20260116

代理人：徐思茹;缪利明

代理机构：上海华工专利事务所(普通合伙) 31104

语种：中文

中文关键词：缺口;裂纹;效应;疲劳寿命预测;真空环境;缺口试样;原位;疲劳试验;跟踪记录;加载;周期;纹长;绘制;裂纹扩展;速率;周期变化;裂纹扩展速率曲线;工业CT;扫描;缺陷;疲劳试样;内部缺陷;信息;门槛;QLYQS_;疲劳裂纹;萌生;特征区;下降段;上升段

摘要：本发明涉及工程结构疲劳寿命预测的技术领域,提供一种基于缺口短裂纹效应的结构超高周疲劳寿命预测方法,包括:在真空环境中开展含缺口试样的原位疲劳试验,跟踪记录加载周期及其对应的裂纹长度,并绘制裂纹扩展速率随加载周期变化的裂纹扩展速率曲线;使用工业CT扫描含缺陷的超高周疲劳试样,获取试样内部缺陷的尺寸和位置信息;根据疲劳裂纹扩展门槛值确定超高周疲劳裂纹萌生特征区的临界尺寸;根据获得的真空环境下缺口的裂纹扩展速率,预测含缺陷疲劳试样的内部裂纹扩展速率;分别对裂纹在萌生区以内和以外的扩展速率进行积分得到超高周疲劳萌生寿命和扩展寿命,累加得到含缺陷试样的超高周疲劳全周期寿命。