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过程测控技术及仪表装置
文献类型：专著
中文题名：过程测控技术及仪表装置
作者：孙自强;刘笛;刘济
机构：华东理工大学信息科学与工程学院自动化系;
出版社：化学工业出版社
出版日期：20170000
纸书定价：0
isbn号：978-7-122-30326-4
语种：中文
参考文献：
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