文献类型：期刊文献

中文题名：渗硅对铜合金耐磨性功效原因初探

英文题名：Investigation on Causes for Effects of Siliconization upon Wearability of Copper Alloy

作者：庄秉寰[1];冯顺来[1]

机构：[1]华东理工大学机械工程系

年份：1997

卷号：23

期号：1

起止页码：84

中文期刊名：华东理工大学学报（自然科学版）

外文期刊名：Journal of East China University of Science and Technology

收录：CSTPCD;;国家哲学社会科学学术期刊数据库;EI(收录号：1997123977164);Scopus;北大核心:【北大核心1996】；CSCD:【CSCD2011_2012】；

语种：中文

中文关键词：渗硅;铜合金;耐磨性;化学热处理

外文关键词：siliconization; bronze; wearability

摘要：对渗硅零件结合引用文献及研究结果，认为晶体结构、层错能、溶质原子的偏聚、金相组织、断裂韧性及动态硬度等方面的改善，是提高渗硅铜合金零件耐磨性的原因。
Siliconized parts, which have been used by many works, are proved to be of good wear proof effect. Improvements in crystal structure, stacking fault energy, interfacial segregation of solute atom, metallographic structure, fracture toughness, and dynamic hardness, etc. are the causes for raising wearability of siliconized copper alloy parts.