文献类型：期刊文献

中文题名：XPS表征Ar^+刻蚀对PET表面结构的损伤

英文题名：XPS characterization of damage on surface structure of PET by Ar^+ etching

作者：蒋栋[1];张帆[2]

机构：[1]华东理工大学分析测试中心,上海200237;[2]华东师范大学化学系,上海200241

年份：2014

期号：6

起止页码：72

中文期刊名：分析仪器

外文期刊名：Analytical Instrumentation

收录：CSTPCD;;Scopus

基金：上海市科委科研计划项目(13142201200);国家自然科学基金(21275054)

语种：中文

中文关键词：Ar+刻蚀;PET;XPS

外文关键词：PET;XPS;Ar＋ etching;PET;XPS

摘要：Ar+刻蚀应用于聚合物的深度剖析中时,通常会造成聚合物表面结构的损伤,从而无法得到真实的聚合物结构信息。本实验结合X射线光电子能谱(XPS)分析测试技术,以聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)为对象,研究Ar+刻蚀对其表面结构的损伤,以及Ar+刻蚀参数对其损伤作用的影响。
when Ar＋ etching is applied in the depth profiling of polymers ,it always induces some dam‐age on the surface structure of polymers ,and it is unable to get the true information about the structure of polymers .The damage on the surface structure of poly（ethylene terephthalate） （PET） by Ar＋ etching was studied with using X‐ray photoelectron spectroscopy （XPS） analysis ,and the influence of the parameters of Ar＋ etching on the damage on the surface structure of PET is also discussed .