文献类型：会议论文

中文题名：Nicolet红外附件—OMNI采样器的应用

作者：高剑英[1];苏克曼[1];韩崇家[1];

机构：[1]华东理工大学化学系仪器分析室;

会议论文集：光谱仪器与分析(总期第50、51、52期)

会议日期：20021001

会议地点：江苏宜兴

主办单位：中国仪器仪表学会;中国地质学会

语种：中文

中文关键词：红外光谱;OMNI采样器;纺织品面料;复合材料;蛋白质冻干粉;微量样品测试

摘要：本文介绍了红外附件-OMNI采样器的应用,如对纤维与纺织品面料、易吸潮样品、复合材料、微量样品、颗粒状或形状不规则的固体样品,玻璃及其它硬质基体上的涂层等的直接测试,得到的红外谱图信噪比好、灵敏度高,经ATR校正后的谱图与红外标准谱图有很好的匹配度.传统的红外光谱分析方法对一些特殊样品,如不可破坏的、表层及不可处理和微量的样品很难直接测定,采用美国Nicolet单点衰减全反射OMNI采样器可以方便地解决上述问题.这种采样器用一个球形的极为坚固的锗晶体作为一个采样表面,通过压力塔对样品提供一个点对点的接触,压力塔上有压力保护装置,防止在操作时因压力过大而损坏晶体.压力塔上还有一个显微观察器可以使小样品方便精确定位.OMNI采样器测试范围4000-675cm<'-1>,穿透样品的深度在2000cm<'-1>处大约0.67μm,适合pH范围1-14,是一个很好的通用的红外附件.