文献类型：期刊文献

中文题名：基于模糊C均值和SLIC的纳米孔阻断事件的识别与研究

作者：盛宙[1];颜秉勇[1];周家乐[1];王慧锋[1];

机构：[1]华东理工大学信息科学与工程学院;

年份：2019

中文期刊名：华东理工大学学报(自然科学版)

基金：国家重大仪器专项(21327807);国家自然科学基金青年基金(51407078);

语种：中文

中文关键词：纳米孔;灰度图;事件检测;模糊C均值;SLIC;超像素融合;

摘要：纳米孔电流信号的分析依赖于对不同类型的阻断事件的准确分析。在阻断事件提取上,本文提出了一种基于灰度图识别阻断事件的新方法,通过对灰度图进行二值化后提取出阻断事件。针对基线电流对二值化阈值选取的影响,采用从小波分解后的近似系数中估计出基线电流的方法实现自适应的二值化阈值。为减小阈值法对检测出的短阻断事件起始与终止位置的影响,采用模糊C均值(Fuzzy C-Means,FCM)方法对短阻断事件的位置进行修正。对检测出的多级事件,先将其转换为相应的具有颜色差异的灰度图,再利用简单的线性迭代聚类(Simple Linear Iterative Clustering,SLIC)超像素算法对多级事件的“台阶”自动识别。为避免SLIC算法的过分割带来属于同一“台阶”超像素被分割的问题,对过度分割后的超像素进行超像素融合,实现属于同一“台阶”的超像素融合。仿真结果表明,基于灰度图的事件检测方法能够实现对信号中的阻断事件有效检测,FCM算法能够实现对短阻断事件位置的有效修正,SLIC超像素算法能够有效地识别出多级事件的“台阶”数。