文献类型：会议论文

中文题名：原位ToF-SIMS在光电界面分析中的应用

作者：华鑫[1];龙亿涛[1];

机构：[1]华东理工大学化学与分子工程学院结构可控先进功能材料及其制备教育部重点实验室;

会议论文集：第三届全国质谱分析学术报告会摘要集

会议日期：2017-12-09

会议地点：中国福建厦门

语种：中文

中文关键词：原位ToF-SIMS; 钙钛矿电池; 光电界面; 电极-电解质界面; 微流控;

摘要：飞行时间-二次离子质谱(ToF-SIMS)作为一种高灵敏度、高空间分辨率的表面分析技术,已广泛应用于材料科学、环境分析以及生命分析等领域。近年来,钙钛矿太阳能电池已进入快速发展期,对于其光电转换效率、稳定性以及材料-性能构效关系研究有迫切的需求[1]。然而,大部分分析方法并非在原位实时条件下对光电界面进行分析,难以揭示光电界面的动态变化。本文中,我们利用原位ToF-SIMS对于钙钛矿材料空气稳定性