文献类型：专利

中文题名：一种含缺陷结构疲劳寿命预测的通用模型及方法

作者：朱明亮[1];尧全恒[1];陈蓉[1];陆文卿[1];李小龙[1];轩福贞[1];

机构：[1]华东理工大学;

专利类型：发明公开

申请号：CN202511769377.8

申请日：20251128

申请人地址：200237 上海市徐汇区梅陇路130号

公开日：20260310

代理人：徐思茹;缪利明

代理机构：上海华工专利事务所(普通合伙) 31104

语种：中文

中文关键词：缺陷结构;疲劳寿命预测;通用模型;缺陷信息;元模型;疲劳分析;软件;求解;Italic>Z<;参量模型;立线;关联;数据点;拟合;公式;检测;信息计算;结构复杂度;服役环境;苛化;源于;冶炼;制造;装配过程;累积;损伤;金属结构;成形;加工制造过程;焊接结构

摘要：本发明涉及机械结构疲劳强度评估的技术领域,提供一种含缺陷结构疲劳寿命预测的通用模型及方法,根据不同缺陷信息分别建立含缺陷的有限元模型,基于疲劳分析软件求解得到含缺陷结构的疲劳寿命;结合Z参量模型,根据建立的含缺陷的有限元模型,得到每个缺陷下的Z参量;将获取的疲劳寿命与Z参量建立线性关联,并将获得的所有数据点进行拟合,得到疲劳寿命预测公式;根据实际检测到的缺陷信息计算得到Z参量值,将其代入疲劳寿命预测公式,完成疲劳寿命预测。通过将Z参量的适用性拓展到短寿命和长寿命全部服役周期,并通过完善Z参量中的相关参数,为含缺陷结构的疲劳寿命预测提供通用的模型及方法。