文献类型：专利

中文题名：材料缺陷检测全生命周期管理系统及设备

作者：易建军[1];张富照[1];苏林[1];倪宗哲[1];潘奕涵[1];郭聿冬[1];王超沣[1];

机构：[1]华东理工大学;

专利类型：发明专利

申请号：CN202311368366.X

申请日：20231020

申请人地址：200237 上海市徐汇区梅陇路130号

公开日：20240206

代理人：黄磊

代理机构：上海段和段律师事务所

语种：中文

中文关键词：缺陷检测;检测;待检测图像;全生命周期;管理档案;检测图像;信息流;预处理;材料缺陷检测;缺陷检测模块;图像处理模块;材料缺陷;操作行为;管理系统;记录模块;生成管理;实时影像;图谱构建;图像处理;图像数据;原始材料;质量选择;中间文件;自动检测;时间戳;比对;构建;记录;存档;图谱;关联;监管;学习

摘要：本发明提供了一种材料缺陷检测全生命周期管理系统及设备，包括图像处理模块：对原始材料检测图像进行预处理，得到待检测图像；缺陷检测模块：根据待检测图像的质量选择直接比对缺陷检测方法或者基于深度学习的缺陷检测方法，对待检测图像处理，生成缺陷检测报告；操作实时影像记录模块：对操作全过程进行记录，将操作行为、发生操作时的时间戳、中间文件以及操作用户ID进行关联；管理档案图谱构建模块：基于图像处理及缺陷检测中的图像数据节点，生成检测信息流，根据检测信息流构建管理档案图谱。本发明可以实现对材料缺陷的自动检测，并且可以将检测过程中产生的记录进行存档，生成管理报告，同时实现检测过程的全生命周期监管。