文献类型：专利

中文题名：一种材料疲劳裂纹扩展行为的简捷评估方法及系统

作者：朱明亮[1];轩福贞[1];庄彬彬[1];朱刚[1];王宇超[1];

机构：[1]华东理工大学;

专利类型：发明专利

申请号：CN202110609180.3

申请日：20210601

申请人地址：200237 上海市徐汇区梅陇路130号

公开日：20210907

代理人：陶玉龙;陆嘉

代理机构：31100 上海专利商标事务所有限公司

语种：中文

中文关键词：疲劳裂纹;应力比;裂纹扩展行为;材料疲劳;转折点;应力强度因子;门槛;繁琐过程;评估曲线;实验数据;预测评估;预测;评估;疲劳;支撑

摘要：本发明涉及疲劳裂纹扩展技术领域，更具体的说，涉及一种材料疲劳裂纹扩展行为的简捷评估方法、系统及介质。本发明提出的材料疲劳裂纹扩展行为的简捷评估方法，包括：步骤S1、获取基准疲劳裂纹扩展曲线；步骤S2、获取任意一应力比R下的转折点的应力强度因子范围ΔK_T(R)；步骤S3、获取Paris区的预测曲线；步骤S4、获取疲劳裂纹扩展曲线的转折点的扩展速率(da/dN)_T(R)；步骤S5、获取应力比R下的疲劳裂纹扩展曲线的疲劳门槛值ΔK_th(R)；步骤S6、获得近门槛值区的评估曲线；步骤S7、获得应力比R下的疲劳裂纹扩展曲线，进行疲劳裂纹扩展行为的预测评估。本发明以少量的实验数据作为支撑，对任意应力比下的裂纹扩展行为进行精确预测，同时避免多次实验的繁琐过程。